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德国EPK MINITEST720FN1.5涂层测厚仪

型号:

产品时间:2021-02-03

简要描述:

德国EPK MINITEST720FN1.5涂层测厚仪
什么是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界*技术生产。

详细介绍
品牌EPK/德国价格区间1万-2万
产地类别进口应用领域化工,石油,航天,汽车

德国EPK MINITEST720FN1.5涂层测厚仪

-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精J确性

-测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错

 

 


标准配置:                                                                                                   
带塑料手提箱,内含:                                                                                 
-MINITEST 720(内置探头)
--或MINITEST 730(外置探头)
--或MINITEST740主机(不含探头,有各种探头可选)
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA电池

 推荐配件:
 -F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架

技术数据表
SIDSP探头


探头
特性
F1.5,N0.7,FN1.5F2F5,N2.5,FN5F15
FNFFNF
测量范围0-1.5mm0-0.7mm0-2mm0-5mm0-2.5mm0-15mm
使用范围小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用粗糙表面标准探头,使用广泛厚涂层
测量原理磁感应电涡流磁感应磁感应电涡流磁感应
信号处理探头内部32位信号处理(SIDSP)
精J确度±(1μm+0.75%读值)±(1.5μm+0.75%读值)±(5μm+0.75%读值)
重复性±(0.5μm+0.5%读值)±(0.8μm+0.5%读值)±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率0.05μm0.1μm1μm
Z小曲率半径(凸)1.0mm1.5mm5mm
Z小曲率半径(凹,外置探头)7.5mm10mm25mm
Z小曲率半径(凹,内置探头)30mm30mm30mm
Z小测量面积Φ5mmΦ10mmΦ25mm
Z小基体厚度0.3mm40μm0.5mm0.5mm40μm1mm
连续模式下测量速度每秒20个读数
单值模式下Z大测量速度每分钟70个读数

 

 

主机


型号
特性
MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740
探头类型内置外置内置外置可换
数据记忆组数1010100
存储数据量Z多10,000个Z多10,000个Z多100,000个
统计值读值个数,Z小值,Z大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合标准和规范ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准
校准模式出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值
极限值监控声、光报警提示超过极限
测量单位um,mm,cm;mils,inch,thou
操作温度-10℃-60℃
存放温度-20℃-70℃
数据接口IrDA 1.0(红外接口)
电源2节AA电池
标准DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
体积157mm x 75.5mm x 49mm
重量约175g约210g约175g(内置)/230g(外置)

 


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