服务热线

13651678228
网站导航
技术文章
当前位置:主页 > 技术文章 > 影响涂层测厚仪的测量结果的因素有哪些?

影响涂层测厚仪的测量结果的因素有哪些?

更新时间:2017-09-01 点击次数:1734
 下面这几点是会影响涂层测厚仪的测量结果的因素。
1.基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
2.基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
3.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
4.边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
5.曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
6.试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
7.表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
8.磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
9.附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
10.测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
11.测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。

2024 版权所有 © 上海树信仪器仪表有限公司  备案号:沪ICP备09035270号-4 GoogleSitemap管理登陆 技术支持:化工仪器网

地址:上海市杨浦区纪念路8号上海财经大学科技园3号楼203室 传真:86-021-64515829 邮件:13651678228@163.com

上海树信仪器仪表有限公司主要经营涂层测厚仪;超声波测厚仪;超声波探伤仪;红外线测温仪;声级计;测振仪;转速表;COD测定仪;激光测距仪;酸度计;电导率测定仪;粗糙度仪;硬度计;测力计;溶解氧测定仪;万用表;离子浓度测定仪;数字示波器;数字示波器;信号源;电源;频谱分析;功率分析仪等产品。

关注我们

服务热线

021-64515839

021-64515829

扫一扫,关注我们