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超声波测厚仪的校正方法

时间:2017-02-25 点击次数:507
 超声波测厚仪校正可采用两种方式:一是用标准试块校准,二是通过设定声速来校准。
下面主要介绍一下如何用标准试块校准超声波测厚仪。
用标准试块校准:
一、单点校准:该模式下的校准只能在2-PT(双点)方式为“关”时进行,即按MODE键直至显示THK为止。按CAL/ON键,CAL开始闪烁,期间使探头与校准基准块耦合,待耦合指示灯( )亮,即读数稳定。此时显示值可能与校准试块的已知厚度不匹配。此时可让探头保持耦合,也可取下探头。用▲和▼调节显示值,使之与校准试块的厚度一致,然后在按CAL/ON键,完成校准。
二、双点校准:按MODE键,直至显示2-PT(双点校准方式),按CAL/ON显示当前状态(开或关)。用▲或▼启动2-PT,再按CAL/ON,则2-PT指示灯开始闪烁,出现“LO”(薄)校准的提示,将探头与校准基准块耦合,待耦合指示灯( )亮,即读数稳定。可让探头保持耦合,也可取下探头。用▲和▼调节显示值,使之与校准试块的厚度一致,然后在按CAL/ON键,出现“HI”(厚)校准的提示,将探头与校准基准块耦合,待耦合指示灯( )亮,即读数稳定。用▲和▼调节显示值,使之与校准试块的厚度一致,然后按CAL/ON键,即完成双点校准。
说明:校准试块的材质要与被测物件的材质一致或者接近。为了达到zui佳测量结果,单点校准时,校准块的厚度应等于或稍大于被测物件的厚度。同理,双点校正时,较厚校准块的厚度也应等于或大于待测物的zui大厚度,而薄校准块的厚度则应尽可能接近预计测量范围的下限。

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